В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника»
Ваш отзыв о Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография будет первым. Не всегда достаточно просто прочитать отзывы, иногда мы также хотим поделиться своим мнением о товаре. Наше мнение может быть важным для других потенциальных покупателей, а также для самого продавца. Поэтому, после приобретения Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография, мы рекомендуем написать информативный комментарий, чтобы помочь другим людям сделать правильный выбор.
Когда мы делаем покупки в интернете, одной из важнейших составляющих процесса является доставка. Правильно указанный адрес доставки - это залог того, что Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография окажется в ваших руках точно вовремя. Важно указать полный и точный адрес доставки для транспортной компаниии и курьеру.
