Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов
Ваш отзыв о Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (МФиТ) Шварц будет первым. Не всегда достаточно просто прочитать отзывы, иногда мы также хотим поделиться своим мнением о товаре. Наше мнение может быть важным для других потенциальных покупателей, а также для самого продавца. Поэтому, после приобретения Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (МФиТ) Шварц, мы рекомендуем написать информативный комментарий, чтобы помочь другим людям сделать правильный выбор.
Когда мы делаем покупки в интернете, одной из важнейших составляющих процесса является доставка. Правильно указанный адрес доставки - это залог того, что Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (МФиТ) Шварц окажется в ваших руках точно вовремя. Важно указать полный и точный адрес доставки для транспортной компаниии и курьеру.
